ПРИМЕНЕНИЕ ФИЗИКО-ТЕХНИЧЕСКИХ МЕТОДОВ ДЛЯ ВЫЯВЛЕНИЯ ПРИЧИН ОТКАЗОВ ПРОВОЛОЧНЫХ РЕЗИСТОРОВ 

Доросинский Антон Юрьевич, генеральный директор, ООО «Научно-производственное предприятие «Сонар» (Россия, г. Пенза, ул. Центральная, 1В), E-mail: antik_r13@mail.ru 

54.084 

DOI

10.21685/2072-3059-2020-1-6 

Актуальность и цели. Объектом исследования являются отказы проволочных резисторов, вызванные различными видами дефектов деталей, узлов, а также применяемых материалов при производстве резистивных датчиков. Предметом исследования являются методы, используемые при анализе изделий и материалов электронной техники. Цель работы – исследование методов анализа деталей, узлов и материалов резистивных датчиков для выработки рекомендаций по внедрению физико-технических методов в производство.
Материалы и методы. Исследование методов анализа деталей, узлов и материалов для выявления различных дефектов выполнялось на основе сопоставления и анализа данных, полученных в процессе контроля технологических процессов.
Результаты. Выявлены основные виды дефектов, встречающихся при производстве проволочных резисторов. Предложена систематизация методов анализа проволочных резисторов, их составных частей и материалов для идентификации того или иного вида дефекта.
Выводы. Анализ возможностей рассмотренных методов при выявлении преобладающих дефектов позволил сформулировать и представить в табличном виде области применимости рассмотренных физико-технических методов для контроля наиболее часто встречающихся дефектов. С учетом области применимости и эффективности использования методов контроля качества и анализа отказов были даны рекомендации по внедрению их в производство. 

Ключевые слова

контроль, проволочный резистор, параметр, материал, метод анализа, микроскоп, отказ 

 Скачать статью в формате PDF

1. Dodge, Н. Stuart «Physics of failure in spacecraft aplication 169. Ann. Assuarance Sci / Н. Dodge. – New York ; London ; Paris, 1969. Р. 100–104.
2. Курносов, А. И. Исследование причин отказов плоскостных диодов / А. И. Курносов // Вопросы радиоэлектроники. Сер. ЭВТ. – 1965. – № 3.
3. Дей, И. М. Исследование влияния органических материалов на окисление контактных сплавов / И. М. Дей // Электронная техника. Сер. «Материалы» в. 1. 1975.
4. Глезер, А. М. Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ / А. М. Глезер. – Москва : Техносфера, 2009. – 208 c.
5. Головин, И. С. Внутреннее трение и механическая спектроскопия металлических материалов : учебник / И. С. Головин. – Москва : Изд. Дом МИСиС, 2012 – 247 с.